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                            • FS-1FilmSense多波段橢偏儀

                              FilmSense多波段橢偏儀可通過橢偏參數、 透射/反射率等參數的測量,快速實現光學參數薄膜和納米結構的表征分析,適用于薄膜材料的快速測量表征。

                              更新時間:2024-03-28
                              型號:FS-1
                              廠商性質:代理商
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                            • 全光譜橢圓偏光測厚儀SE950

                              Raditech致力于光學檢測設備,在光學量測設備領域專業度高、能提供整合性解決方案。推出第一臺國人自制的「全光譜橢圓偏光量測儀」及「全光譜反射式膜厚量測儀」,能協助產業界邁向更精密化、更微細化,技術與國際大廠并駕齊驅,產品精確度高、價格具競爭力,穩健邁向國內自制最高質量之精密光學量測設備制造商。

                              更新時間:2024-04-03
                              型號:
                              廠商性質:代理商
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