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                            • FR-Ultra NIR N3 晶圓厚度測量系統

                              FR-Ultra 是一款專用于精確測量半導體以及介電材料超厚層的專用設備。 藉由先進的光學器件,FR-Ultra 可以測量光滑或粗糙的薄膜以及較厚的基材。

                              更新時間:2024-03-19
                              型號:
                              廠商性質:代理商
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